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测厚仪系列 X射线渡层测厚仪、孔铜测厚仪、铜箔测厚仪、涂层测厚

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可测元素范围:钛(Ti) – (U)
可测量厚度范围:原子序 22-250.1-0.8μm  26-400.05-35μm 43-520.1-100μm  72-820.05-5μm 
X-
射线管:油冷,超微细对焦<BR>高压:0-50KV(程控)
准直器:固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm<BR>自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统:IBM相容,17”显示器
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质
 

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